KehraTec Automation GmbH

Kontakt     Impressum

  

Kompaktsysteme

Lösungen für diese Kategorie können mit speziellen Kompaktsystemen realisiert werden. Sie sind neben der Oberflächenanalyse von Bauteilen auch zur Vermessung von Bauteilen in der Lage und werden mit den zum System gehörenden Kamera- und Beleuchtungskomponenten geliefert. Das Funktionsspektrum ist bei diesen Systemen bereits erheblich umfangreicher als bei den Kamerasensoren:

  • Konturprüfung
  • Farbprüfung
  • Objektvermessung
  • Defekterkennung
  • Flächenprüfung
  • Speicherung mehrerer Muster

Zur Kommunikation z.B. mit einer SPS oder einem PC- System stehen verschiedene Schnittstellen zur Verfügung.